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20+PB
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Silicon NPN Power Transistors
ISC [Inchange Semiconductor Company Limited]
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Bipolar NPN Device in a Hermetically...
SEME-LAB
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Bipolar NPN Device in a Hermetically...
SEME-LAB [Seme LAB]
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影响测量精度，而且每次复位后at73c500都要重新读入校准数据，如果at73c500使用微处理器模式，导入校准数据的握手协议过于复杂，需要单片机软件干预；因此从可靠性角度考虑，at73c500被设置成eeprom模式，将校准数据从eeprom at93c46中读出，同时，单片机也能对at93c46内的校准数据读写。 前端测量电路工作流程：上电复位后，单片机对at73c500复位，然后at73c500进行初始化工作。首先将rd/wr写高，状态/模式总线上的四个三态门被选通，at73c500通过bus12至bus15读入模式信息。在判断工作模式为eeprom模式后，at73c500向状态/模式总线的最低位（bus8）写低电平，经逻辑译码电路（gal20v8）后产生初始化信号cs1。cs1信号选通串行eeprom at93c46，at73c500读出存储在at93c46中的校准数据。校准数据读出以后，at73c500向bus8写高电平，经锁存后cs1变成高电平，初始化阶段结束，测量单元开始正常的测量工作。at73c501开始通过同步串行总线向at73c500传送采样结果。 at73c500的计算
10.0A/850V
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