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主，其中 risc (reduced instruction set computer) 代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 mcu 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14. 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15. 请介绍一下mcu的测试方法。 答： mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下：  接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。  功能测试：以产品设计者所提供测试资料(t
mcu架构为主，其中risc(reducedinstructionsetcomputer)代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表mcu的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14.符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15.请介绍一下mcu的测试方法。 答：mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下： 接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(testpatt
risc (reduced instruction set computer) 代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 mcu 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14. 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15. 请介绍一下mcu的测试方法。 答： mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下：  接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。  功能测试：以产品设计者所提供测试资料(test pattern
sc的mcu架构为主，其中 risc (reduced instruction set computer) 代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 mcu 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14. 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15. 请介绍一下mcu的测试方法。 答： mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下：  接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。  功能测试：以产品设计者所提供测试资料(test pattern)灌入ic，检查其结果是否与
14. 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15. 请介绍一下mcu的测试方法。 答： mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下： 接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(test pattern)灌入ic，检查其结果是否与当时simulation时状态一样。 standby电流测试：测量ic处于halt模式时即每一个接点(pad)在1态0态或z态保持不变时的漏电流是否符合最低之规格。 耗电测试：整颗ic的静态耗电与动态耗电。 输入电压测试：测量每个输入接脚的输入电压反应特性。 输出电压测试：测量每个输出接脚的输出电压位准。 =
都以risc的mcu架构为主，其中 risc (reduced instruction set computer) 代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 mcu 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14． 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15． 请介绍一下mcu的测试方法。 答：mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下： ① 接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。 ② 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(test pattern)灌入ic，检查其结果是否与当时simulation时状态一样。 ③ standby电流测试：
都以risc的mcu架构为主，其中 risc (reduced instruction set computer) 代表mcu的所有指令。都是利用一些简单的指令组成的，简单的指令代表 mcu 的线路可以尽量做到最佳化，而提高执行速率。另外初学者要具备单片机i/o接口的应用知识，这在于周边应用电路及各种元器件的使用，须配合自己所学的电子学及电路学等。 14. 符合44pin的80系列8位单片机的mcu有哪些？ 答：符合44pin的80系列8位单片机有z8674312fsc、z86e2112fsc、z86e2116fsc。 15. 请介绍一下mcu的测试方法。 答： mcu从生产出来到封装出货的每个不同的阶段会有不同的测试方法，其中主要会有两种：中测和成测。 所谓中测即是wafer的测试，它会包含产品的功能验证及ac、dc的测试。项目相当繁多，以holtek产品为例最主要的几项如下：  接续性测试：检测每一根i/opin内接的保护用二极管是否功能无误。  功能测试：以产品设计者所提供测试资料(test pattern)灌入ic，检查其结果是否与当时simu
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